高温试验箱高温储存
高温屏蔽广泛应用于半导体器件，一般在高温下保存24至168小时。电子元件的失效大多是由于表层脏污、键合不良、氧化层有缺陷等原因造成的，这些都与温度密切相关。如果您需要更多我们的测试设备型号，请参考我们的chamber-testing（.）com
高低温试验箱温度循环系统
在热胀冷缩的应力作用下，电子设备在使用过程中会遇到不同的环境温度条件，热匹配性能差的元件很容易出现故障。温度循环筛选是利用极端高温和低温之间的热胀冷缩应力，可以有效剔除存在热性能缺陷的产品。常用的元件筛选条件为-55~+125℃，循环5~10次。
需要筛选组件
电子元件固有的可靠性取决于产品可靠性的设计方案。在产品的制造过程中，由于人为因素或原材料、工艺参数、设备条件的波动，最终产品不能全部达到预期的内在可靠性。
每一批成品中，总有一些产品隐藏着一些缺陷和弱点。这些隐藏的缺陷和弱点会在某些压力条件下表现出早期的失败。早期失效的部件的平均寿命比正常产品短得多。
因此，在电子元件安装到整机设备之前，需要尽可能地排除初始故障元件，因此需要对元件进行筛选。根据国内外筛选的经验，通过有效的筛选，元件的总故障率可降低1-2个数量级，筛选是保证可靠性的重要手段。
电
在电力筛选中，在热电应力的共同作用下，可以很好地暴露出元件本体和表面的许多潜在缺陷，是可靠性筛选的重要项目。各种电子元件通常在额定功率条件下精炼数小时至168小时。有些产品，如集成电路，不能随意改变条件，但可以采用高温工作模式，提高工作结温，达到高应力状态。粉末精炼需要专用的试验设备——高低温试验箱，成本较高，筛选时间不宜过长。民用产品通常为几个小时，军用高可靠性产品可选择100168小时，航空级组件可选择240小时或更长。